串联谐振电路耐压试验的质量因数是什么

发布日期：2021-04-12　点击：3115次

1. 介绍

串联谐振装置广泛应用于变压器、电容器等大容量试验对象的现场交流耐压试验。针对实际应用中常见的问题，分析了串联谐振耐压试验中影响因数质量q的几个因素。

2. 测试对象的容量

q值是评价串联谐振电路最重要的参数。它与高压电容的工频f和电感L成正比，与阻抗R成反比，R表示整个电路的有功损耗。在实际的工频串联谐振测试电路中，根据公式wl=l/wc可以得出电容电抗决定电感电抗的结论。

然而,Q = wL / R。如果测试对象是GIS或由独立元件组成的设备，则可以分段进行耐压测试，提高容抗，获得更高的q值。采用变频谐振装置，试验对象的容量较大，谐振频率较低。在大多数情况下，这对测试对象是有帮助的。

3.电路损耗的等效电阻

无论何种工频或变频谐振装置，若测试对象容量固定或高压电抗器电感固定，当电路达到串联谐振时，wl=l/wc，则有:

式中:Uout为输出电压;Uexc是根据上述公式输入的励磁电压，提高q值的唯一方法是降低电路损耗电阻R。

实际测试电路由串联测试装置、高压引线和测试对象三部分组成。该电路主要由高压电抗器和串联装置中的测试对象构成。

3.1串联谐振装置损耗

高压电抗器主要决定串联谐振器件的有源损耗。高压电抗器电感大，电流小。因此，线圈的直流电阻可以达到ka。它与电抗器的铁损耗构成了电路损耗电阻r的重要组成部分。为了便于进一步分析，我们引入了这一观点——将整个电路的q值分解为电路的各个部分。

设电路q值为Qs，串联谐振器q值为QR，测试对象q值为Qi.

4.结论

(1)串联谐振试验中，影响q值的因素很多，包括被测对象的容量、电路损耗电阻、天气等。

(2) Qs是一个复杂的参数，一般由QL和QR决定。

然而，在现场试验中，其他因素也会影响Qs，包括高压电极和高压引线。特别是高压引线的电晕损耗控制比较困难。随着电压的升高，高压部分电晕损耗逐渐增大，导致Qs值明显降低。最后，输出电压不能饱和，不再增加。

(3)降低高压部分电晕损失的有效方法是在高压电极上增加电晕环，提高高压引线的初始电晕场强。实验室可采用长径精加工铝管，现场试验高压引线应采用长径弹性引线。不建议使用裸铜线。

(4)当输出电压接近标称值时，应注意电抗器的电压分布。